SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
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ID： |
2F3F0E0188964DDD9B00806084FC0569 |
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文件大小(MB)： |
0.21 |
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2 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国国家标准,电子玻璃高频介质损,耗和介电常数的测试方法GB 9622. 9—,降为 SJ/T 11043-96,Test method for high frequency,dielectric losses and dielectric constant of electronic glass,本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电常数,方法提要,本标准利用Q表,在高频波段,根据谐振原理,对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量,求,得在谐振回路的品质因数和回路电容,通过计算获得介质损耗角的正切值和介电常数,2测试仪器及材料,2.1 高频Q表，振荡频率范围:50kHz.50MHzj电容调节范围:40.400pF；Q值测量范围:20.300,2.2 游标卡尺,2.3 无水乙醇,分析纯,2.4 低セ保膏,3试样制备,3.1,カ,3.2,选取无结石、气泡和条纹等缺陷的玻璃圆片,直径为40mm,厚度为3mm,进行退火处理,消除应,将试样表面研磨至厚度为2. 5±0. 5mm0,试样用蒸傅水、无水乙醇清洗、烘干,在两平面涂以低温银膏,置于高温炉中,在460.500c保温,lOmin,缓慢冷却到室温。表面涂覆层应紧密均匀、导电良好。最后用细砂纸磨去边缘的银层,再用无水乙,醇清洗干净,3.4 在每个试样两面对称位置焊接导线,4测试步骤,4.1 准确测量试样直径和厚度,4 2接通Q表电源,预热,4.3 根据试样要求的频率,选择Q值最大的电感线圈接在Q表电感线圈接线柱上。并在频段调节盘上,选取测试所要求的频率,4.4 调整Q表,4.5 调节回路电容,使之谐振,记录Q表的读数Q和电容。】,4 . 6将试样接入Q表接试样的接线柱上,再调节回路电容到谐振,记录Q表的读数和电容ユ,5计算,5 .!用（1）式计算介质损耗角正切值tg叫,中华人民共和国电子工业部1988-03-21批准1989-02-01 实施,1,GB 9622. 9—88,tg 屮== . .. .(1),式中i4,Qi,Qi,电感线圈的分布电容,PF,一般可忽略不计キ,未接入试样时,回路的品质因数J,未接入试样时,回路的电容,pF,接入试样时,回路的品质因数;,接入试样时,回路的电容,PF,5.2用（2）式计算试样的介电常数XpF/m）,￡ = 14> 4 (2),(Qi - — ^〇),(a - Cか?Qt . Q?,C ?d,が,式中:C——试样的电容量,PF,&,D,试样的厚度,m；,试样的直径,m0,6测试结果,本方法允许测定误差,以tgア表示,为0. 0002,同一批试样五次平行测定数据之间相差在此范围内,时,取平均值作为测试结果,附加说明:,本标准由电子工业部440I厂、4404厂4400厂、标准化研究所负责起草,本标准主要起草人:沈雁迅、罗声华、白义祥、■,￡ 、刘承钧,2……
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